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  • 嵌入式系统中的辐射效应/国际电气工程先进技术译丛

  • 所属分类：电子电脑>>计算机技术>>硬件及维护     作者：(法)拉乌尔·委拉兹克//帕斯卡·弗埃雷特//(巴西)里卡多·赖斯|译者:黄云//张战刚//雷志锋//师谦//何玉娟等     出版社：机械工业
  • 丛书项：国际电气工程先进技术译丛
  •     由拉乌尔·委拉兹克、帕斯卡·弗埃雷特、(巴 西)里卡多·赖斯等著的《嵌入式系统中的辐射效应/ 国际电气工程先进技术译丛》由法国TIMA实验室的 RaoulVelazco、法国波尔多第壹大学的 PascalFouillat和巴西南里奥格兰德联邦大学的 RicardoReis共同编著，从环境、效应、测试、评价 、加固和预计等方面全面详细介绍了嵌入式系统中的 辐射效应，主要内容包括空间辐射环境、微电子器件 中的辐射效应、电子器件的在轨飞行异常、多层级故 障效应评估、基于脉冲激光的单粒子效应测试和分析 技术、电路的加固方法及自动化工具、辐射效应试验 测试设备以及数字架构的错误率预计方法等。本书内 容全面、丰富且针对性强，覆盖了电子器件及系统辐 射效应的方方面面。区别于其他电子系统辐射效应论 著，本书从工程化的角度论述空间辐射效应评估、地 面模拟、软错误率预计等技术以及国际上目前先进的 研究方法论，同时兼具基础性和理论性。本书适合专 业从事电子器件及系统辐射效应研究的科研人员和工 程化应用的技术人员阅读和借鉴；同时，也可为该领 域的“新人”（如研究生）提供必备的基础知识。
  • 人民币：RMB 79.00 元     售价：NT$ 316.00 元
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