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现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应(集成电路辐射效应与加固技术)/国防电子信息技术丛书
所属分类：电子电脑>>电工无线电自动化>>无线电电子.电讯作者：(日)伊部英治|责编:杨博|译者:毕津顺//马瑶//王天琦出版社：电子工业
丛书项：国防电子信息技术丛书
本书主要介绍广泛存在的各种辐射及其对电子设备和系统的影响，涵盖了造成 ULSI器件出错和失效的多种辐射，包括电子、a射线、介子、γ射线、中子和重离子，从物理角度建模，以确定使用何种数学方法来分析辐射效应。本书对多种降低软错误影响的预测、检测、表征和缓解技术进行了分析和讨论。作者还展示了如何对在凝聚态物质中复杂的辐射效应进行建模，以量化和减少其影响，并解释了在环境辐射中包括服务器和路由器在内的电子系统是如何失效的。本书的读者对象主要是航天电子、核与空间辐射、半导体物理和电子设备以及其他应用物理建模等领域的科研人员和研究生。对各种物理现象的建模和数值计算感兴趣的研究人员或学生也可参考本书。
人民币：RMB 99.00 元售价：NT$ 396.00 元

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