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  • 多圈QFN封装热-机械可靠性研究

  • 所属分类:电子电脑>>电工无线电自动化>>无线电电子.电讯     作者:夏国峰|责编:陈业莹     出版社:北京
  •     本书针对多圈QFN封装 系列产品在设计、封装制造 工艺和服役阶段整个过程的 热机械可靠性问题展开研究 ,主要采用数值模拟技术, 并结合理论分析、实验测试 和正交实验设计方法,以提 升封装产品良率和服役可靠 性为目标,优化结构参数、 材料参数和封装工艺参数, 在产品研发设计阶段即协同 解决封装工艺过程中和服役 可靠性问题,提供合理的产 品设计方案,并达到缩短研 发周期的目标。
  • 人民幣:RMB 48.00 元     售价:NT$ 192.00
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